Lo studio e l'applicazione di materiali elettronici ha creato una crescente domanda di tecniche sofisticate e affidabili per l'esame e la caratterizzazione di questi materiali. Questo libro completo esamina l'area della diffrazione dei raggi X e le moderne tecniche disponibili per l'impiego nello sviluppo e nella produzione di ricerca. Fornisce il background teorico e pratico per applicare queste tecniche nella caratterizzazione scientifica e industriale dei materiali. L'obiettivo principale del libro è quello di mappare il background teorico e pratico necessario allo studio dei materiali monocristallini mediante diffrazione e topografia a raggi X ad alta risoluzione. Combina formalismi matematici con spiegazioni grafiche e consigli pratici pratici per l'interpretazione dei dati. Lingua: Inglese